A.用電流擋測(cè)電流或用電壓擋測(cè)電壓前,必須檢查機(jī)械零點(diǎn) |
B.用電阻擋測(cè)電阻前,不需要檢查機(jī)械零點(diǎn) |
C.用電阻擋測(cè)電阻時(shí),若從一個(gè)倍率變換到另一個(gè)倍率,不需要重新檢查歐姆零點(diǎn) |
D.用電阻擋測(cè)電阻時(shí),被測(cè)電阻的阻值越大,指針向右轉(zhuǎn)過的角度就越大 |
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科目:高中物理 來源:不詳 題型:實(shí)驗(yàn)題
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科目:高中物理 來源:不詳 題型:實(shí)驗(yàn)題
實(shí)驗(yàn)次數(shù) | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 |
I1(mA) | 0.40 | 0.81 | 1.20 | 1.59 | 2.00 |
I2(mA) | 0.20 | 0.40 | 0.60 | 0.80 | 1.00 |
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科目:高中物理 來源:不詳 題型:實(shí)驗(yàn)題
A.不再產(chǎn)生干涉條紋 |
B.仍可產(chǎn)生干涉條紋,其中央亮條紋的位置不變 |
C.仍可產(chǎn)生干涉條紋,其中央亮條紋的位置略上移 |
D.仍可產(chǎn)生干涉條紋,其中央亮條紋的位置略下移 |
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科目:高中物理 來源:不詳 題型:實(shí)驗(yàn)題
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科目:高中物理 來源:不詳 題型:實(shí)驗(yàn)題
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科目:高中物理 來源:不詳 題型:實(shí)驗(yàn)題
A.測(cè)量前必須調(diào)零,而且每測(cè)一次電阻都要重新調(diào)零 |
B.為了使測(cè)量值比較準(zhǔn)確,應(yīng)該用兩手分別將兩表筆的金屬部分與待測(cè)電阻兩端緊緊捏在一起,以使表筆與待測(cè)電阻接觸良好 |
C.待測(cè)電阻若是連接在電路中,應(yīng)當(dāng)先把它與其它元件斷開后再測(cè)量 |
D.測(cè)量晶體二極管的正向電阻時(shí)紅表筆應(yīng)與它的負(fù)極連接。 |
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科目:高中物理 來源:不詳 題型:實(shí)驗(yàn)題
| 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 |
I(A) | 0.12 | 0.20 | 0.25 | 0.33 | 0.40 | 0.51 |
UV() | 1.36 | 1.30 | 1.21 | 1.20 | 1.15 | 1.07 |
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