實(shí)驗(yàn)步驟如下: ①把光源箱.凸透鏡和平面鏡放在光具座上,凸透鏡放在光源箱和平面鏡之間.調(diào)整三者的高度,使光源箱的小孔.透鏡的光心O和平面鏡的中心在一條直線上. ②調(diào)節(jié)透鏡和光源箱之間的距離,直到從三角形小孔射出的光線經(jīng)透鏡折射與平面鏡反射后,在光源箱開孔壁上形成小孔的清晰的倒像. ③量出小孔與透鏡之間的距離,它就等于透鏡的焦距. 評(píng)分說明:本小題共6分,其中光路圖占3分,實(shí)驗(yàn)步驟占3分. 正確畫出光路圖的,給3分;光路圖中未標(biāo)明光線進(jìn)行方向或未標(biāo)全的,扣1分. 步驟①中答出使三者在一條直線上或共軸的,給1分;步驟②中答出在光源箱壁上得到小孔的清晰的像的,給1分;步驟③中答出測(cè)量小孔與透鏡距離的,給1分. 查看更多

 

題目列表(包括答案和解析)

23.(10分)(注意:在試卷上作答案無(wú)效)

某同學(xué)為了探究物體在斜面上的運(yùn)動(dòng)時(shí)摩擦力與斜面的傾角的關(guān)系,設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)裝置如圖。長(zhǎng)直平板一端放在水平桌面上,另一端架在一物塊上。在平板上標(biāo)出A、B兩點(diǎn),B點(diǎn)處放置一光電門,用光電計(jì)時(shí)器記錄滑塊通過光電門時(shí)擋光的時(shí)間。

實(shí)驗(yàn)步驟如下:

① 用游標(biāo)卡尺測(cè)量滑塊的擋光長(zhǎng)度d,用天平測(cè)量滑塊的質(zhì)量m;

② 用直尺測(cè)量AB之間的距離s,A點(diǎn)到水平桌面的垂直距離h1,B點(diǎn)到水平桌面的垂直距離h2

③ 將滑塊從A點(diǎn)靜止釋放,由光電計(jì)時(shí)器讀出滑塊的擋光時(shí)間t1

④ 重復(fù)步驟③數(shù)次,并求擋光時(shí)間的平均值;

⑤ 利用所測(cè)數(shù)據(jù)求出摩擦力f和斜面傾角的余弦值;

⑥ 多次改變斜面的傾角,重復(fù)實(shí)驗(yàn)步驟②③④⑤,做出f-關(guān)系曲線。

(1)用測(cè)量的物理量完成下列各式(重力加速度為g):

①   斜面傾角的余弦=     

②   滑塊通過光電門時(shí)的速度v=     ;

③   滑塊運(yùn)動(dòng)時(shí)的加速度a=     ;

④   滑塊運(yùn)動(dòng)時(shí)所受到的摩擦阻力f=     ;

(2)測(cè)量滑塊擋光長(zhǎng)度的游標(biāo)卡尺讀數(shù)如圖所示,讀得d=        。

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(10分)某同學(xué)為了探究物體在斜面上的運(yùn)動(dòng)時(shí)摩擦力與斜面傾角的關(guān)系,設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)裝置如圖。長(zhǎng)直平板一端放在水平桌面上,另一端架在一物塊上。在平板上標(biāo)出A、B兩點(diǎn),

B點(diǎn)處放置一光電門,用光電計(jì)時(shí)器記錄滑塊通過光電門時(shí)擋光的時(shí)間。

實(shí)驗(yàn)步驟如下:

①  用游標(biāo)卡尺測(cè)量滑塊的擋光長(zhǎng)度d,用天平測(cè)量滑塊的質(zhì)量m;

② 用直尺測(cè)量AB之間的距離s,A點(diǎn)到水平桌面的垂直距離h1,B點(diǎn)到水平桌面的垂直距離h2;

③將滑塊從A點(diǎn)靜止釋放,由光電計(jì)時(shí)器讀出滑塊的擋光時(shí)間t。

④ 復(fù)步驟③數(shù)次,并求擋光時(shí)間的平均值;

⑤ 利用所測(cè)數(shù)據(jù)求出摩擦力f和斜面傾角的余弦值;

⑥ 多次改變斜面的傾角,重復(fù)實(shí)驗(yàn)步驟②③④⑤,做出f-關(guān)系曲線。

(1)用測(cè)量的物理量完成下列各式(重力加速度為g):

斜面傾角的余弦=      ;

滑塊通過光電門時(shí)的速度v=     ;

滑塊運(yùn)動(dòng)時(shí)的加速度a=     ;

滑塊運(yùn)動(dòng)時(shí)所受到的摩擦阻力f=    

(2)測(cè)量滑塊擋光長(zhǎng)度的游標(biāo)卡尺讀數(shù)如圖所示,讀得d=        。

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(8分)(1)測(cè)量電阻的方法很多。某同學(xué)用伏安法測(cè)量的電阻,已知電壓表內(nèi)阻約3千歐,電流表內(nèi)阻約為1。若該同學(xué)用圖甲電路,的測(cè)量值比真實(shí)值      (填“偏大”或“偏小”);若被測(cè)電阻的值約為,應(yīng)采用圖     (選“甲”或“乙”)的電路,誤差會(huì)比較小。

(2)無(wú)論是用圖甲或圖乙測(cè)量,都不可避免地產(chǎn)生由電表內(nèi)阻引起的測(cè)量誤差,有一個(gè)研究性學(xué)習(xí)小組設(shè)計(jì)了以下的實(shí)驗(yàn)方案,用以避免電表內(nèi)阻引起的系統(tǒng)誤差。該方案是利用如圖丙所示的電路進(jìn)行測(cè)量,主要實(shí)驗(yàn)步驟如下:

  第一步:將開關(guān)接2,閉合開關(guān),調(diào)節(jié)滑動(dòng)變阻器,使電表讀數(shù)接近滿量程,但不超過量程,記錄此時(shí)電壓表和電流表的示數(shù)、

①請(qǐng)你寫出接著的第二步,并說明需要記錄的數(shù)據(jù):                                                                 

                                      。

②由以上記錄的數(shù)據(jù)計(jì)算出被測(cè)電阻的表達(dá)式           

③簡(jiǎn)要分析此實(shí)驗(yàn)方案為何能避免電表內(nèi)阻引起的實(shí)驗(yàn)誤差             

                                      。

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如圖所示裝置,密閉容器Q和U型玻璃管a,豎直長(zhǎng)玻璃管b通過橡皮管連接,玻璃管內(nèi)裝有水,將容器內(nèi)的空氣和外界隔離開。某同學(xué)利用此裝置和溫度計(jì)測(cè)量高山頂處的大氣壓強(qiáng)。實(shí)驗(yàn)步驟如下:      

    a.在山底處,調(diào)節(jié)豎直管b的高低位置,使得ab管內(nèi)水面相平,并在a的管上作出水面的標(biāo)記A;

    b.記錄山底處的大氣壓強(qiáng),并測(cè)量出山底處的溫度T0;

    c.將裝置移到山頂處,調(diào)節(jié)豎直管b的高低位置,使得a管中的水面再次與標(biāo)記A相平,測(cè)量b管的水面高出標(biāo)記A處水面的高度h;

    d.認(rèn)為高山頂處的大氣壓P=P0ρgh,其中g為重力加速度的值ρ為水的密度。 試說明上述測(cè)量步聚中漏掉或有錯(cuò)誤的步聚,并加改正。

    漏掉的步驟是:           

    錯(cuò)誤的步驟是:      (填序號(hào)),應(yīng)改為:                 

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(10分).碰撞的恢復(fù)系數(shù)的定義為  ,其中V10和V20分別是碰撞前兩物體的速度,v1和v2分別是碰撞后兩物體的速度。彈性碰撞的恢復(fù)系數(shù)e=1.非彈性碰撞的e<1,某同學(xué)借用驗(yàn)證動(dòng)量守恒定律的實(shí)驗(yàn)裝置(如圖所示)驗(yàn)證彈性碰撞的恢復(fù)系數(shù)是否為1,實(shí)驗(yàn)中使用半徑相等的鋼質(zhì)小球1和2,(他們之間的碰撞可近似視為彈性碰撞),且小球1的質(zhì)量大于小球2的質(zhì)量.

    實(shí)驗(yàn)步驟如下:

    安裝實(shí)驗(yàn)裝置,做好測(cè)量前的準(zhǔn)備,并記下重垂線所指的位置O

    第一步, 不放小球2,讓小球1從斜槽上A點(diǎn)由靜止?jié)L下,并落在地面上,重復(fù)多次,用盡可能小的圓把小球的所有落點(diǎn)圈在里面,其圓心就是小球落點(diǎn)的平均位置.

    第二步, 把小球2放在斜槽前端邊緣處的C點(diǎn),讓小球1從A點(diǎn)由靜止?jié)L下,使它們碰撞,重復(fù)多次,并使用與第一步同樣的方法分別標(biāo)出碰撞后兩小球落點(diǎn)的平均位置.

    第三步, 用刻度尺分別測(cè)量三個(gè)落地點(diǎn)的平均位置離O點(diǎn)的距離,即線段OM、OP、ON的長(zhǎng)度.

    在上述實(shí)驗(yàn)中,

  (1)P點(diǎn)是                          的平均位置.

      M點(diǎn)是                          的平均位置.

     N點(diǎn)是                          的平均位置.

  (2)寫出用測(cè)量量表示的的恢復(fù)系數(shù)的表達(dá)式     

  (3)三個(gè)落地點(diǎn)距O點(diǎn)的距離OM、OPON與實(shí)驗(yàn)所用的小球質(zhì)量是否有關(guān)?

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