用雙縫干涉測光的波長。已知雙縫與屏的距離L，雙縫間距d。用測量頭來測量亮紋中心的距離。測量頭由分劃板、目鏡、手輪等構(gòu)成，轉(zhuǎn)動(dòng)手輪，使分劃板左右移動(dòng)，讓分劃板的中心刻線對(duì)準(zhǔn)亮紋的中心（如圖（甲）所示），記下此時(shí)手輪上的讀數(shù)，轉(zhuǎn)動(dòng)測量頭，使分劃板中心刻線對(duì)準(zhǔn)另一條亮紋的中心，記下此時(shí)手輪上的讀數(shù)。

（1）分劃板的中心刻線分別對(duì)準(zhǔn)第1條和第4條亮紋的中心時(shí)，手輪上的讀數(shù)如圖14-4（乙）所示，對(duì)準(zhǔn)第1條時(shí)讀數(shù)x₁=_     mm(允許誤差)、對(duì)準(zhǔn)第4條時(shí)讀數(shù)x₂=___  __mm(允許誤差)

（2）寫出計(jì)算波長λ的表達(dá)式，λ=__    ___（用x₁、 x₂ 、L 、d表示，不用計(jì)算）。

（3）在屏上觀察到了干涉條紋．如果將雙縫的間距變大，則屏上的干涉條紋的間距將變    ；（選大或小）

（4）某同學(xué)自己動(dòng)手利用如圖所示的裝置觀察光的干涉現(xiàn)象，其中A為單縫屏，B為雙縫屏，整個(gè)裝置位于一暗箱中，實(shí)驗(yàn)過程如下：（A）該同學(xué)用一束太陽光照射A屏?xí)r，屏C上沒有出現(xiàn)干涉條紋；移去B后，在屏上出現(xiàn)不等間距條紋；此條紋是由于                 產(chǎn)生的；（B）移去A后，遮住縫S₁或縫S₂中的任一個(gè)，C上均出現(xiàn)一窄亮斑.出現(xiàn)以上實(shí)驗(yàn)結(jié)果的主要原因是                     .

用雙縫干涉測光的波長。已知雙縫與屏的距離L，雙縫間距d。用測量頭來測量亮紋中心的距離。測量頭由分劃板、目鏡、手輪等構(gòu)成，轉(zhuǎn)動(dòng)手輪，使分劃板左右移動(dòng)，讓分劃板的中心刻線對(duì)準(zhǔn)亮紋的中心（如圖（甲）所示），記下此時(shí)手輪上的讀數(shù)，轉(zhuǎn)動(dòng)測量頭，使分劃板中心刻線對(duì)準(zhǔn)另一條亮紋的中心，記下此時(shí)手輪上的讀數(shù)。
（1）分劃板的中心刻線分別對(duì)準(zhǔn)第1條和第4條亮紋的中心時(shí)，手輪上的讀數(shù)如圖14-4（乙）所示，對(duì)準(zhǔn)第1條時(shí)讀數(shù)x₁=_     mm(允許誤差)、對(duì)準(zhǔn)第4條時(shí)讀數(shù)x₂=___   __mm(允許誤差)
（2）寫出計(jì)算波長λ的表達(dá)式，λ=__    ___（用x₁、 x₂、L 、d表示，不用計(jì)算）。
（3）在屏上觀察到了干涉條紋．如果將雙縫的間距變大，則屏上的干涉條紋的間距將變   ；（選大或�。�

（4）某同學(xué)自己動(dòng)手利用如圖所示的裝置觀察光的干涉現(xiàn)象，其中A為單縫屏，B為雙縫屏，整個(gè)裝置位于一暗箱中，實(shí)驗(yàn)過程如下：（A）該同學(xué)用一束太陽光照射A屏?xí)r，屏C上沒有出現(xiàn)干涉條紋；移去B后，在屏上出現(xiàn)不等間距條紋；此條紋是由于                 產(chǎn)生的；（B）移去A后，遮住縫S₁或縫S₂中的任一個(gè)，C上均出現(xiàn)一窄亮斑.出現(xiàn)以上實(shí)驗(yàn)結(jié)果的主要原因是                     .

用雙縫干涉測光的波長．實(shí)驗(yàn)裝置如圖甲所示，已知單縫與雙縫間的距離L₁＝100 mm，雙縫與屏的距離L₂＝700 mm，雙縫間距d＝0.25 mm.用測量頭來測量亮紋中心的距離．測量頭由分劃板、目鏡、手輪等構(gòu)成，轉(zhuǎn)動(dòng)手輪，使分劃板左右移動(dòng)，讓分劃板的中心刻線對(duì)準(zhǔn)亮紋的中心(如圖乙所示)，記下此時(shí)手輪上的讀數(shù)，轉(zhuǎn)動(dòng)測量頭，使分劃板中心刻線對(duì)準(zhǔn)另一條亮紋的中心，記下此時(shí)手輪上的讀數(shù)．

①分劃板的中心刻線分別對(duì)準(zhǔn)第1條和第4條亮紋的中心時(shí)，手輪上的讀數(shù)如圖丙所示，則對(duì)準(zhǔn)第1條時(shí)讀數(shù)x₁＝________mm、對(duì)準(zhǔn)第4條時(shí)讀數(shù)x₂＝________mm
②該光的波長λ＝________nm
③某同學(xué)按實(shí)驗(yàn)裝置安裝好儀器后，觀察光的干涉現(xiàn)象，獲得成功，若他在此基礎(chǔ)上對(duì)儀器的安裝做如下改動(dòng)，仍能使實(shí)驗(yàn)成功的是             

用雙縫干涉測光的波長。已知雙縫與屏的距離L，雙縫間距d。用測量頭來測量亮紋中心的距離。測量頭由分劃板、目鏡、手輪等構(gòu)成，轉(zhuǎn)動(dòng)手輪，使分劃板左右移動(dòng)，讓分劃板的中心刻線對(duì)準(zhǔn)亮紋的中心（如圖（甲）所示），記下此時(shí)手輪上的讀數(shù)，轉(zhuǎn)動(dòng)測量頭，使分劃板中心刻線對(duì)準(zhǔn)另一條亮紋的中心，記下此時(shí)手輪上的讀數(shù)。

（1）分劃板的中心刻線分別對(duì)準(zhǔn)第1條和第4條亮紋的中心時(shí)，手輪上的讀數(shù)如圖14-4（乙）所示，對(duì)準(zhǔn)第1條時(shí)讀數(shù)x₁=_      mm(允許誤差)、對(duì)準(zhǔn)第4條時(shí)讀數(shù)x₂=___   __mm(允許誤差)

（2）寫出計(jì)算波長λ的表達(dá)式，λ=__    ___（用x₁、 x₂ 、L 、d表示，不用計(jì)算）。

（3）在屏上觀察到了干涉條紋．如果將雙縫的間距變大，則屏上的干涉條紋的間距將變    ；（選大或�。�

（4）某同學(xué)自己動(dòng)手利用如圖所示的裝置觀察光的干涉現(xiàn)象，其中A為單縫屏，B為雙縫屏，整個(gè)裝置位于一暗箱中，實(shí)驗(yàn)過程如下：（A）該同學(xué)用一束太陽光照射A屏?xí)r，屏C上沒有出現(xiàn)干涉條紋；移去B后，在屏上出現(xiàn)不等間距條紋；此條紋是由于                  產(chǎn)生的；（B）移去A后，遮住縫S₁或縫S₂中的任一個(gè)，C上均出現(xiàn)一窄亮斑.出現(xiàn)以上實(shí)驗(yàn)結(jié)果的主要原因是                      .