z |
i |
5 |
i-2 |
A、-1-2i | B、-1+2i |
C、1+2i | D、1-2i |
z |
i |
5 |
i-2 |
5i |
i-2 |
5i(-2-i) |
(i-2)(-2-i) |
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:
A、在統(tǒng)計(jì)學(xué)中,獨(dú)立性檢驗(yàn)是檢驗(yàn)兩個分類變量是否有關(guān)系的一種統(tǒng)計(jì)方法. | ||||||
B、線性回歸方程對應(yīng)的直線
| ||||||
C、在殘差圖中,殘差點(diǎn)分布的帶狀區(qū)域的寬度越狹窄,其模型擬合的精度越高. | ||||||
D、在回歸分析中,相關(guān)指數(shù)R2為0.98的模型比相關(guān)指數(shù)R2為0.80的模型擬合的效果好. |
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:
A、一、二、三象限 |
B、一、二、四象限 |
C、一、三、四象限 |
D、二、三、四象限 |
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:
|
y-1 |
x+2 |
A、[0,
| ||
B、[0,1] | ||
C、(-∞,
| ||
D、[
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:
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