質(zhì)譜儀是測帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的一種儀器,它的工作原理是帶電粒子(不計重力)經(jīng)同一電場加速后,垂直進入同一勻強磁場做圓周運動,然后利用相關(guān)規(guī)律計算出帶電粒子質(zhì)量。其工作原理如圖所示,虛線為某粒子軌跡,由圖可知

A.此粒子帶負電

B.下極板S2比上極板S1電勢高

C.若只增大加速電壓U值,則半徑r變大

D.若只增大入射粒子的質(zhì)量,則半徑r變小

C   由軌跡可判斷,粒子帶正電,A錯。正粒子經(jīng)過電場被加速所以上極板帶正電,上極板電勢高,B錯。增大加速電壓U,由qU=mv2得:v=,r==,r增大,C正確。若只增大入射粒子的質(zhì)量,由上式得r增大,D錯誤。

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相關(guān)習(xí)題

科目:高中物理 來源: 題型:

質(zhì)譜儀是測帶電粒子質(zhì)量和分;析同位素的一種儀器,它的工作原理是帶電粒子(不計重力)經(jīng)同一電場加速后垂直進入同一勻強磁場做圓周運動,然后利用相關(guān)規(guī)律計算出帶電粒子的質(zhì)量.其工作原理如圖所示,虛線為某粒子的運動軌跡,由圖可知( 。

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 (2012·長沙市一中月考)質(zhì)譜儀是測帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的一種儀器,它的工作原理是帶電粒子(不計重力)經(jīng)同一電場加速后,垂直進入同一勻強磁場做圓周運動,然后利用相關(guān)規(guī)律計算出帶電粒子質(zhì)量.其工作原理如圖所示,虛線為某粒子運動軌跡,由圖可知(  )

A.此粒子帶負電

B.下極板S2比上極板S1電勢高

C.若只增大加速電壓U,則半徑r變大

D.若只增大入射粒子的質(zhì)量,則半徑r變大

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 (2012·長沙市一中月考)質(zhì)譜儀是測帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的一種儀器,它的工作原理是帶電粒子(不計重力)經(jīng)同一電場加速后,垂直進入同一勻強磁場做圓周運動,然后利用相關(guān)規(guī)律計算出帶電粒子質(zhì)量.其工作原理如圖所示,虛線為某粒子運動軌跡,由圖可知(  )

A.此粒子帶負電

B.下極板S2比上極板S1電勢高

C.若只增大加速電壓U,則半徑r變大

D.若只增大入射粒子的質(zhì)量,則半徑r變大

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質(zhì)譜儀是測帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的一種儀器,如圖8-2-24所示.它的工作原理是帶電粒子(不計重力)經(jīng)同一電場加速后,垂直進入同一勻強磁場做圓周運動,然后利用相關(guān)規(guī)律計算出帶電粒子質(zhì)量.圖中虛線為某粒子運動軌跡,由圖可知                                   (  ).

A.此粒子帶負電

B.下極板S2比上極板S1電勢高

C.若只增大加速電壓U,則半徑r變大

D.若只增大入射粒子的質(zhì)量,則半徑r變小

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