如圖甲所示，用單色光照射透明標(biāo)準(zhǔn)板M來(lái)檢查平面N的上表面的光平情況，觀察到的現(xiàn)象如圖乙所示的條紋中的P和Q,這說(shuō)明(    )

A.N的上表面A處向上凸起                B.N的上表面B處向上凸起

C.N的上表面A處向下凹陷                D.N的上表面B處向下凹陷

BC

解析：豎直方向向下照射的光線,經(jīng)M的下表面及N的上表面反射相遇后,發(fā)生干涉而形成明暗相間的干涉條紋,若N的上表面是光平的,則干涉條紋是等間距的.設(shè)相鄰兩干涉條紋的間距為Δx,∠MON的傾角為θ,則Δx·θ=(λ為照射光的波長(zhǎng)),所以Δx=,如A處為一向下凹陷的小坑,則下陷部分傾角θ增大,條紋變密,而恢復(fù)部分傾角θ減小,條紋稀疏,因此形成如P處形狀的干涉條紋.當(dāng)B為一小凸起時(shí),則凸起部分θ角變小,恢復(fù)部分θ角又變大,形成先疏后密的干涉條紋.

利用這種劈尖干涉不僅可以檢測(cè)器件的光平程度,還可以測(cè)量微小的厚度,以及測(cè)定未知光波的波長(zhǎng)等.

練習(xí)冊(cè)系列答案
相關(guān)習(xí)題

科目：高中物理 來(lái)源： 題型：013

如圖甲所示為用光電管來(lái)研究光電效應(yīng)規(guī)律的實(shí)驗(yàn)裝置示意圖，對(duì)于同一陰極K，用光強(qiáng)度分別為E1、E2，對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)為l 1、l 2的單色光照射，測(cè)得所加電壓U與光電流I的關(guān)系如圖乙所示，則可判斷出正確的是(　)

　　A．E1＞E2，l 1＜l 2

　　B．E1＞E2，l 1＞l 2

　　C．E1＜E2，l 1＜l 2

　　D．E1＜E2，l 1＞l 2

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科目：高中物理 來(lái)源： 題型：

如圖甲所示為用光電管來(lái)研究光電效應(yīng)規(guī)律的實(shí)驗(yàn)裝置示意圖.對(duì)于同一陰極K,用光強(qiáng)度分別為E1、E2,對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)為λ1、λ2的單色光照射,測(cè)得所加電壓U與光電流I的關(guān)系如圖乙所示.則下列結(jié)論正確的是 (    )

A.E1＞E2,λ1＜λ2                        B.E1＞E2,λ1＞λ2

C.E1＜E2,λ1＜λ2                        D.E1＜E2,λ1＞λ2

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科目：高中物理 來(lái)源：2013屆陜西省高二下學(xué)期期末考試物理試卷（解析版） 題型：選擇題

如圖甲所示為用干涉法檢查某塊厚玻璃板的上表面是否平的裝置．若待驗(yàn)板的上表面平整，則當(dāng)平行的單色光照射到標(biāo)準(zhǔn)板上時(shí)，可從標(biāo)準(zhǔn)板上方觀察到平行的、明暗相間的干涉條紋．若觀察到的條紋如圖乙所示，則說(shuō)明待驗(yàn)板的上表面

A．有一個(gè)凸起的圓臺(tái)         

B．有一凹陷的圓坑

C．有一個(gè)沿ab方向凸起的高臺(tái)   

D．有一個(gè)沿ab方向凹陷的長(zhǎng)溝

 

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科目：高中物理 來(lái)源：同步題 題型：不定項(xiàng)選擇

如圖甲所示，用單色光照射透明標(biāo)準(zhǔn)板M來(lái)檢查平面N的上表面的平滑情況，觀察到的圖象如圖乙所示的條紋中的P和Q的情況，這說(shuō)明
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A．N的上表面A處向上凸起
B．N的上表面B處向上凸起
C．N的上表面A處向下凹陷
D．N的上表面B處向下凹陷

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同步練習(xí)冊(cè)答案