為了驗(yàn)證光的波粒二象性，在雙縫干涉實(shí)驗(yàn)中將光屏換成照相底片，并沒(méi)減弱光的強(qiáng)度，下列說(shuō)法正確的是

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A．使光子一個(gè)一個(gè)地通過(guò)雙縫干涉實(shí)驗(yàn)裝置的狹縫，如果時(shí)間足夠長(zhǎng)，底片上將出現(xiàn)雙縫干涉圖樣

B．使光子一個(gè)一個(gè)地通過(guò)雙縫干涉實(shí)驗(yàn)裝置的狹縫，如果時(shí)間足夠短，底片上將出現(xiàn)不太清晰的雙縫干涉圖樣

C．大量光子的運(yùn)動(dòng)規(guī)律顯示出光的粒子性

D．個(gè)別光子的運(yùn)動(dòng)顯示光的粒子性

練習(xí)冊(cè)系列答案
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科目：高中物理 來(lái)源：四中大考卷-高二物理（下冊(cè)）、單元測(cè)試10 光學(xué)測(cè)試 題型：021

為了驗(yàn)證光的波粒二象性，在雙縫干涉實(shí)驗(yàn)中將光屏換成照相底片，并設(shè)法減弱光的強(qiáng)度，下列說(shuō)法中正確的是

A．使光子一個(gè)一個(gè)地通過(guò)雙縫干涉實(shí)驗(yàn)裝置的單縫，如果時(shí)間足夠長(zhǎng)，底片上將出現(xiàn)雙縫干涉圖樣

B．使光子一個(gè)一個(gè)地通過(guò)雙縫干涉實(shí)驗(yàn)裝置的單縫，如果時(shí)間很短，底片上將出現(xiàn)不太清晰的雙縫干涉圖樣

C．大量光子的運(yùn)動(dòng)規(guī)律顯示光的波動(dòng)性

D．個(gè)別光子的運(yùn)動(dòng)顯示光的粒子性

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科目：高中物理 來(lái)源：物理教研室 題型：021

為了驗(yàn)證光的波粒二象性，在雙縫干涉實(shí)驗(yàn)中將光屏換成照相底片，并設(shè)法減弱光的強(qiáng)度．下列說(shuō)法中正確的是 (　)

A．使光子一個(gè)一個(gè)地通過(guò)雙縫干涉實(shí)驗(yàn)裝置的單縫，如果時(shí)間很短，底片上將出現(xiàn)不太清晰的雙縫干涉圖樣

B．使光子一個(gè)一個(gè)地通過(guò)雙縫干涉實(shí)驗(yàn)裝置的單縫，如果時(shí)間足夠長(zhǎng)，底片上將出現(xiàn)雙縫干涉圖樣

C．大量光子的運(yùn)動(dòng)規(guī)律顯示光的波動(dòng)性

D．個(gè)別光子的運(yùn)動(dòng)顯示光的粒子性

 

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科目：高中物理 來(lái)源： 題型：021

為了驗(yàn)證光的波粒二象性，在雙縫干涉實(shí)驗(yàn)中將光屏換成照相底片，并設(shè)法減弱光的強(qiáng)度．下列說(shuō)法中正確的是 (　)

A．使光子一個(gè)一個(gè)地通過(guò)雙縫干涉實(shí)驗(yàn)裝置的單縫，如果時(shí)間很短，底片上將出現(xiàn)不太清晰的雙縫干涉圖樣

B．使光子一個(gè)一個(gè)地通過(guò)雙縫干涉實(shí)驗(yàn)裝置的單縫，如果時(shí)間足夠長(zhǎng)，底片上將出現(xiàn)雙縫干涉圖樣

C．大量光子的運(yùn)動(dòng)規(guī)律顯示光的波動(dòng)性

D．個(gè)別光子的運(yùn)動(dòng)顯示光的粒子性

 

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科目：高中物理 來(lái)源： 題型：

為了驗(yàn)證光的波粒二象性，在雙縫干涉實(shí)驗(yàn)中將光屏換成照相底片，并沒(méi)減弱光的強(qiáng)度，下列說(shuō)法正確的是（    ）

A.使光子一個(gè)一個(gè)地通過(guò)雙縫干涉實(shí)驗(yàn)裝置的狹縫，如果時(shí)間足夠長(zhǎng)，底片上將出現(xiàn)雙縫干涉圖樣

B.使光子一個(gè)一個(gè)地通過(guò)雙縫干涉實(shí)驗(yàn)裝置的狹縫，如果時(shí)間足夠長(zhǎng)，底片上將出現(xiàn)不太清晰的雙縫干涉圖樣

C.大量光子的運(yùn)動(dòng)規(guī)律顯示出光的粒子性

D.個(gè)別光子的運(yùn)動(dòng)顯示光的粒子性

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