在做“驗(yàn)證動(dòng)量守恒定律”實(shí)驗(yàn)時(shí),入射球A的質(zhì)量為m1,被碰球B的質(zhì)量為m2,小球的直徑為d,各小球的落地點(diǎn)如圖所示.
(1)入射球A與被碰球B直徑相同,均為d,它們的質(zhì)量相比較,應(yīng)該是m1
m2( 填“<”或“>”或“=”)   
(2)為了保證小球做平拋運(yùn)動(dòng),必須調(diào)整斜槽使
其末端切線水平
其末端切線水平

(3)繼續(xù)實(shí)驗(yàn)步驟為:
A.在地面依次鋪白紙和復(fù)寫(xiě)紙
B.確定重錘對(duì)應(yīng)點(diǎn)O
C.不放球B,讓球A從斜槽滑下,確定它落地點(diǎn)位置P
D.把球B放在立柱上,讓球A斜槽滑下,與B正碰后,確定球A、B落地點(diǎn)位置M、N
E.用刻度尺量出OM、OP、ON的長(zhǎng)度,分別記做LOM、LOP、LON
F.看m1 LOM+m2 LON 與m1 LOP是否相等,以驗(yàn)證動(dòng)量守恒
上述步驟有幾步不完善或有錯(cuò)誤,請(qǐng)指出并寫(xiě)出相應(yīng)的正確步驟.
D選項(xiàng)中,球a應(yīng)從與C項(xiàng)相同高度滑下;
E選項(xiàng)中,P、M、N點(diǎn)應(yīng)該是多次實(shí)驗(yàn)落地點(diǎn)的平均位置.
F選項(xiàng)中,應(yīng)看m1LOM+m2(LON-d)與m1LOP是否相等
D選項(xiàng)中,球a應(yīng)從與C項(xiàng)相同高度滑下;
E選項(xiàng)中,P、M、N點(diǎn)應(yīng)該是多次實(shí)驗(yàn)落地點(diǎn)的平均位置.
F選項(xiàng)中,應(yīng)看m1LOM+m2(LON-d)與m1LOP是否相等
分析:(1)為了保證碰撞前后使入射小球的速度方向不變,故必須使入射小球的質(zhì)量大于被碰小球的質(zhì)量.
(2)為了保證小球做平拋運(yùn)動(dòng),所以必須使斜槽的末端切線水平.
(3)為了保證每次小球運(yùn)動(dòng)的情況相同,故應(yīng)該讓入射小球a每次從同一位置滾下.本題要驗(yàn)證動(dòng)量守恒定律定律即m1v0=m1v1+m2v2,故需驗(yàn)證m1 LOM+m2 (LON-d)與m1 LOP是否相等.
解答:解:(1)在小球碰撞過(guò)程中水平方向動(dòng)量守恒定律故有m1v0=m1v1+m2v2
在碰撞過(guò)程中動(dòng)能守恒,故有
1
2
m1v02=
1
2
m1v12+
1
2
m2v22
解得v1=
m1-m2
m1+m2
v
0

要碰后入射小球的速度v1>0,即m1-m2>0,
故答案為:>.
(2)要小球做平拋運(yùn)動(dòng),則斜槽的末端必須水平.
故答案為;其末端切線水平.
(3)ABC選項(xiàng)都正確.
 D選項(xiàng)中,球a 應(yīng)從與C項(xiàng)相同高度滑下;
 E選項(xiàng)中,P、M、N點(diǎn)應(yīng)該是多次實(shí)驗(yàn)落地點(diǎn)的平均位置.
F選項(xiàng)中,應(yīng)看m1 LOM+m2 (LON-d)與m1 LOP是否相等
點(diǎn)評(píng):本實(shí)驗(yàn)的一個(gè)重要的技巧是入射球和靶球從同一高度作平拋運(yùn)動(dòng)并且落到同一水平面上,故下落的時(shí)間相同,所以在實(shí)驗(yàn)的過(guò)程當(dāng)中把本來(lái)需要測(cè)量的速度改為測(cè)量平拋過(guò)程當(dāng)中水平方向發(fā)生的位移,可見(jiàn)掌握了實(shí)驗(yàn)原理才能順利解決此類(lèi)題目.
練習(xí)冊(cè)系列答案
相關(guān)習(xí)題

科目:高中物理 來(lái)源: 題型:

(1)現(xiàn)行高中物理教材的學(xué)生實(shí)驗(yàn)中,提供了重錘線的是
AC
AC

A、研究平拋物體的運(yùn)動(dòng)    B、驗(yàn)證機(jī)械能守恒定律
C、驗(yàn)證動(dòng)量守恒定        D、用單擺測(cè)定重力加速度
(2)在利用自由落體運(yùn)動(dòng)驗(yàn)證機(jī)械能守恒定律的實(shí)驗(yàn)中:若打點(diǎn)計(jì)時(shí)器所接交流電的頻率為50赫茲,甲、乙兩條實(shí)驗(yàn)紙帶,如圖1所示,應(yīng)選
紙帶好.若已測(cè)得點(diǎn)2到4間距離為s1,點(diǎn)0到3間距離為s2,打點(diǎn)周期為T(mén),驗(yàn)證重物開(kāi)始下落到打點(diǎn)計(jì)時(shí)器打下點(diǎn)3這段時(shí)間內(nèi)機(jī)械能守恒,s1、s2和T應(yīng)滿(mǎn)足的關(guān)系為T(mén)=
S1
2
2gS2
S1
2
2gS2


(3)影響物質(zhì)材料電阻率的因素很多.一般金屬材料的電阻率隨溫度的升高增大,而半導(dǎo)體材料的電阻率則隨溫度的升高而減。承Q芯啃詫W(xué)習(xí)小組為了研究某種導(dǎo)電材料的導(dǎo)電特性,他們用該種材料制作成電阻值較小的線狀元件z做實(shí)驗(yàn),所用電壓表的量程為3V,電流表的量程為3A,測(cè)得元件Z中的電流與相應(yīng)電壓的9組數(shù)據(jù)標(biāo)在I-U圖上.
①他們進(jìn)行實(shí)驗(yàn)應(yīng)選用的實(shí)物電路圖是圖2中的
C
C


②在交流評(píng)價(jià)過(guò)程中某同學(xué)提出,有2組實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)存在明顯的錯(cuò)誤,你認(rèn)為是
C、D
C、D
(只需填上與該數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的點(diǎn)O、A、B…)
③請(qǐng)?jiān)趫D3上畫(huà)出元件Z的伏安特性曲線,判斷元件Z是
半導(dǎo)體
半導(dǎo)體
材料(“金屬”或“半導(dǎo)體”).

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