Question

如圖1-3-2所示，一帶電荷量為q的金屬球固定在絕緣的支架上，這時球外P點的電場強度為E.當把一電荷量也是q的點電荷放在P點，測得點電荷受到的靜電力為F₁；當把一電荷量為aq的點電荷放在P點時，測得作用在這個點電荷的靜電力為F₂，則在國際單位制中(　　)

圖1-3-2

A.F₁的數(shù)值等于qE₀

B.F₂的數(shù)值等于aF₁

C.a比1小得越多，F₂的數(shù)值越接近aqE₀

D.a比1小得越多，F₂的數(shù)值越接近aF₁

Answer 1

解析：本題涉及的問題是能否將放入P點的點電荷看作試探電荷.顯然，當引入電荷的電荷量也為q時，它對金屬球表面的電荷分布會帶來影響，這個電荷不能作為試探電荷，它改變了金屬球作為帶電體在空間中產(chǎn)生電場的分布，因此，P點的場強會因引入q而發(fā)生變化，不再為E₀,則A錯.當置于P點電荷的電荷量為aq時，金屬球電荷的分布情況又發(fā)生變化，故P點的場強又發(fā)生改變，即在兩種情況下所受電場力與帶電荷量都不成正比，故B錯誤.只有a比1小得越多，aq電荷對金屬球的表面電荷分布影響越小，該處的電場強度越接近E₀，此時F的值越接近aqE₀.

答案：C