如圖所示為M與N兩點(diǎn)間的電路,在時(shí)間T內(nèi)不同元件發(fā)生故障的事件是互相獨(dú)立的,它們發(fā)生故障的概率如下表所示:
元件K1K2 L1 L2 L3 
概率0.60.50.40.50.7
(1)求單位時(shí)間T內(nèi),K1與K2同時(shí)發(fā)生故障的概率;
(2)求在時(shí)間T內(nèi),由于K12發(fā)生故障而影響電路的概率;
(3)求在時(shí)間T內(nèi),任一元件發(fā)生故障而影響電路的概率.
考點(diǎn):互斥事件的概率加法公式,相互獨(dú)立事件的概率乘法公式
專題:概率與統(tǒng)計(jì)
分析:(1)設(shè)Ai表示Ki(i=1,2)發(fā)生故障,利用相互獨(dú)立事件概率乘法公式能求出單位時(shí)間T內(nèi),K1與K2同時(shí)發(fā)生故障的概率.
(2)利用互斥事件概率計(jì)算公式能求出在時(shí)間T內(nèi),由于K12發(fā)生故障而影響電路的概率.
(2)設(shè)Bi表示Li(i=1,2,3)發(fā)生故障,利用互斥事件概率計(jì)算公式能求出在時(shí)間T內(nèi),任一元件發(fā)生故障而影響電路的概率.
解答: 解:(1)設(shè)Ai表示Ki(i=1,2)發(fā)生故障,
則P(A1)=0.6,P(A2)=0.5,
單位時(shí)間T內(nèi),K1與K2同時(shí)發(fā)生故障的概率:
P1=P(A1)P(A2)=0.6×0.5=0.3.
(2)在時(shí)間T內(nèi),由于K12發(fā)生故障而影響電路的概率:
P2=P(A1)P(
.
A2
)+P(
.
A1
)P(A2)+P(A1)P(A2
=0.6×0.5+0.4×0.5+0.6×0.5=0.8.
(2)設(shè)Bi表示Li(i=1,2,3)發(fā)生故障,
則P(B1)=0.4,P(B2)=0.5,P(B3)=0.7,
在時(shí)間T內(nèi),任一元件發(fā)生故障而影響電路的概率:
P3=P2+P(B1)P(B2)P(B2)=0.8+0.4×0.5×0.7=0.94.
點(diǎn)評(píng):本題考查概率的求法,是基礎(chǔ)題,解題時(shí)要注意相互獨(dú)立事件概率乘法公式和互斥事件概率計(jì)算公式的合理運(yùn)用.
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e2
4
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