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科目: 來(lái)源:不詳 題型:單選題

將用力拉伸后用的皮尺來(lái)測(cè)量物體的長(zhǎng)度,測(cè)量結(jié)果將( 。
A.比真實(shí)值大B.比真實(shí)值小
C.與真實(shí)值一樣D.不能確定

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科目: 來(lái)源:不詳 題型:填空題

減小誤差的方法是______.

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科目: 來(lái)源:不詳 題型:單選題

如果被測(cè)物體的長(zhǎng)度較短,而尺的量程較大,多次測(cè)量物體長(zhǎng)度時(shí),應(yīng)盡量用尺上不同部位的刻度來(lái)測(cè)量.如使用同學(xué)們手頭常用的文具刻度尺,第一次從零刻度起測(cè)量,第二次從1cm的刻線起測(cè)量…這樣做并求平均值的優(yōu)點(diǎn)是(  )
A.可以防止測(cè)量的錯(cuò)誤
B.可以減小因估讀帶來(lái)的誤差
C.可以避免誤差
D.可以減小因估讀和尺的刻度不均勻帶來(lái)的誤差

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科目: 來(lái)源:不詳 題型:填空題

在測(cè)量中,______值與______值之間的差異稱(chēng)為誤差.我們通常采用______的方法來(lái)減小誤差.

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科目: 來(lái)源:恩施州 題型:單選題

在物理實(shí)驗(yàn)中,很多時(shí)候都需要對(duì)相關(guān)物理量進(jìn)行多次測(cè)量,其中有的是為了通過(guò)多次測(cè)量尋找規(guī)律,有的是為了通過(guò)多次測(cè)量提高精度.下面四個(gè)實(shí)驗(yàn)中哪些是通過(guò)多次測(cè)量尋找規(guī)律的:
①用刻度尺多次測(cè)量某一物體的長(zhǎng)度;
②在做“探究凸透鏡成像”實(shí)驗(yàn)時(shí),多次改變物距觀察成像情況;
③研究杠桿平衡條件時(shí)多次調(diào)節(jié)鉤碼的個(gè)數(shù)及位置;
④在做“伏安法測(cè)電阻”實(shí)驗(yàn)時(shí),調(diào)節(jié)滑動(dòng)變阻器,測(cè)量對(duì)應(yīng)的多組數(shù)據(jù).(  )
A.①②B.②③C.③④D.①④

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科目: 來(lái)源:安慶一模 題型:單選題

下列課本中的實(shí)驗(yàn)在探究時(shí)都要反復(fù)進(jìn)行多次,目的是為了減小誤差的是(  )
A.探究杠桿的平衡條件
B.伏安法測(cè)電阻
C.探究光的反射規(guī)律
D.探究浮力大小與哪些因素有關(guān)

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科目: 來(lái)源:不詳 題型:單選題

下列哪種方法不能減小誤差( 。
A.選用精密測(cè)量工具
B.多次測(cè)量取平均值
C.改進(jìn)測(cè)量方法,提高測(cè)量技能
D.測(cè)量時(shí)起點(diǎn)必須對(duì)齊刻度尺的零刻度

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科目: 來(lái)源:不詳 題型:單選題

下列關(guān)于“誤差”的說(shuō)法中錯(cuò)誤的是( 。
A.誤差是測(cè)量值與真實(shí)值的差異
B.測(cè)量誤差是由于測(cè)量中的錯(cuò)誤操作造成的
C.通過(guò)改進(jìn)測(cè)量方法,選擇更精密的測(cè)量?jī)x器,可以減小誤差
D.利用多次測(cè)量取平均值的方法可以減小誤差

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科目: 來(lái)源:不詳 題型:單選題

關(guān)于誤差,下列說(shuō)法正確的是( 。
A.實(shí)驗(yàn)中的錯(cuò)誤叫誤差
B.認(rèn)真測(cè)量可以避免誤差
C.產(chǎn)生誤差是由于未遵守操作規(guī)則
D.多次測(cè)量求平均值,可以減小誤差

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科目: 來(lái)源:不詳 題型:單選題

用刻度尺測(cè)量物體長(zhǎng)度,下列情況中屬于誤差的是( 。
A.觀察時(shí),視線未能與刻度尺垂直
B.測(cè)量用的刻度尺本身刻度不完全均勻
C.未能估讀到分度值的下一位
D.物體的左邊緣未對(duì)準(zhǔn)刻度尺的“0”刻度線,就將物體右邊緣所對(duì)刻度值作為物體的長(zhǎng)度

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同步練習(xí)冊(cè)答案